DX-30永磁体霍尔效应测试系统

一、产品概述
本仪器系统由永磁体、高精度恒流源高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高精度高斯计和系统软件组成。为本仪器系统专门研制的DX-320效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。DX-320可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度 (Sheet Carrier Concentration)、迁移率 (Mobility)、电阻率  (Resistivity)、 霍尔系数  (Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。
二、产品特点

1. 系统集成度高，由永磁体、高精度源表、样品支架、标准样片及专用软件构成完整测试平台，开箱即可开展霍尔效应实验。
2. 采用一体化 DX-320 霍尔效应仪，集成恒流源、六位半微伏表与测量切换模块，大幅简化接线与操作，同时可独立作为恒流源或微伏表使用。
3. 物理参数测试范围极宽，覆盖超高、低阻材料，可精准测量载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等关键电学参数。
4. 适用材料类型广泛，可测试常规半导体、低阻材料、高阻材料及弱磁性材料，并支持 P 型、N 型导电类型判定。
5. 采用 NMR 级永磁体，磁场稳定可靠，精度高、一致性好，可按需求定制不同磁场强度，满足多样化测试需求。
6. 软件自动计算并输出多项测试结果，搭配标准样片、遮光结构与欧姆接触配件，使用便捷、数据可靠，适合科研与教学使用。

三、技术参数